一种太赫兹时域光谱系统的光谱透反比标定方法
申请号
2018103835364
申请日期
2018/04/26
公布号
CN108593591A
公布日
2018/09/28
专利类型
发明公布
分类号
G01N21/3586(2014.01)I
申请人
中国工程物理研究院计量测试中心
发明人
徐德
丁宇洁
王艳茹
冉铮惠
代理机构
北京盈天科地知识产权代理有限公司11645
申请人地址
四川省绵阳市绵山路64号
申请人邮编
621000
摘要
本发明提供了一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置。含有闭式谐振腔、被测介质材料、支撑柱、耦合探针、测试电缆、矢量网络分析仪以及底座、耦合探针夹持件；其特征在于被测介质材料放置于闭式谐振腔内部的支撑柱上，耦合探针通过耦合孔伸入闭式谐振腔内，经测试电缆连接于矢量网络分析仪，闭式谐振腔固定放置于底座中部位置，耦合探针夹持件放置于底座上并分列于闭式谐振腔两侧，耦合探针固定于耦合探针夹持件上。本发明适用于低损耗和高损耗介质材料的测量。
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